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      便攜金屬鍍層測厚儀

      • 型   號:CMI243
      • 價   格:

      一般的測試方法,由于探頭的“升離效應"導致的底材效應,和由于測試件形狀和結構導致的干擾,都無法達到對金屬性鍍層厚度的測量。而CMI243便攜金屬鍍層測厚儀將新的基于相位電渦流技術應用到CMI243,使其達到了±3%以內(對比標準片)的準確度和0.3%以內的度。儀器對電渦流技術的應用,將底材效應小化,使得測量精準。便攜式、無損測量各種金屬鍍層

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      CMI243便攜金屬鍍層測厚儀

      CMI243是一款靈便易用的儀器,為金屬表面處理者設計,配置的單探頭可測量鐵質底材上金屬鍍層。在小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上進行測量的能力,使其成為緊固件行業應用的工具。

      采用基于相位電渦流技術,CMI243手持式測厚儀以友好的控制準確、精密的測量

      測量技術:一般的測試方法,例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式,由于探頭的“升離效應”導致的底材效應,和由于測試件形狀和結構導致的干擾,都無法達到對金屬性鍍層厚度的測量。而CMI243便攜金屬鍍層測厚儀將新的基于相位電渦流技術應用到CMI243,使其達到了±3%以內(對比標準片)的準確度和0.3%以內的度。儀器對電渦流技術的應用,將底材效應小化,使得測量精準。另外,儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準。

      • 便攜式、無損測量各種金屬鍍層
      • 精度高、穩定性好
      • 測量精度可與X射線測厚儀媲美
      • 可測量各種微型部件(φ2.5mm)
      • 232接口,可連接打印機或電腦

       

      技術參數

      誤差

      ±3%

      分辨率

      0.1um

      小曲率半徑

      1.2mm(凸);1.5mm(凹)

      小測量面積

      φ2.5mm

      小基體厚度

      0.35mm

      顯示

      3位LCD數顯

      測量單位

      um-mils可選

      校準方式

      精密兩點校準

      統計數據

      平均值、標準偏差S、讀數個數n(9,999個)

       

      大值max、小值min

      接口

      232串口

      電源

      1節9V電池

      儀器尺寸

      150x80x30mm

      儀器重量

      260g

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